GOM konference – Optical Metrology 2009

Den 25.-28. maj afholder GOM den internationale konference Optical Metrology 2009 for nuværende og potentielle systembrugere. Konferencen finder sted på GOMs hovedkontor i Braunschweig i Tyskland.

Årets konference har fokus på deformationsmåling og materialeprøvning, samt på 3D scanning i forbindelse med kvalitetskontrol, inspektion og reverse engineering.

Sidste konference i 2007 var en bragende succes med mere end 500 deltagere fra hele verden. Der blev vist spændende softwarenyheder, nyt tilbehør og masser af interessante præsentationer, om hvilken forskel 3D scanning og deformationsmåling kan gøre. Og som sidegevinst fik deltagerne networket til stor udbytte.
 
Igen i år demonstrerer og fortæller nogle af verdens førende virksomheder og universiteter, hvordan optiske målemetoder har revolutioneret deres hverdag.

Læs mere på www.gom-conference.com.