GOM konference – Optical Metrology 2010
Dato: 19.04.10
Optical Metrology 2010 er en international konference omkring integration af optiske måleteknikker i industrien og i forskning. Konferencen er en unik begivenhed, der bringer industriens ledere sammen. Målet med konferencen er at tilbyde en platform til at udveksle erfaringer i mellem ledere, måleteknikere, eksperter og forskere.
Optical Metrology 2010 er delt op i to konferencer:
Deformationsmåling og materialeprøvning
20.09.2010 til 21.09.2010
3D scanning til kvalitetskontrol, inspektion og reverse engineering
22.09.2010 til 23.09.2010
I mere end 10 år har GOM jævnligt været vært for internationale konferencer. Optical Metrology 2010 har deltagere fra bil- og luftfartsindustrien, energiproducenter, samt underleverandører til disse brancher. Herudover vil en lang række producenter af forbrugsvarer være repræsenteret, sammen med forskningsinstitutioner og universiteter.
Der er gratis adgang til konferencen, der finder sted på GOMs hovedkontor i Braunschweig i Tyskland.
Mere information og tilmelding til Optical Metrology 2010 findes på http://www.gom-conference.com/.
